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纹理损失测试图卡

类型: 测试图卡
品牌: Image Engineering
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视频介绍
产品规格


简介

低对比度正弦西门子星非常适合分析纹理损失,即低对比度时精细细节的损失。成像系统中的纹理损失是由降噪和其他图像处理技术引起的。

低对比度西门子之星采用的方法建立了用于纹理分析的将来的ISO标准195767-1。图像工程公司的图像分析软件iQ-Analyzer的分辨率模块包括一个新的TE280图表,以支持西门子恒星分析。使用低对比度(调制度为18%)的西门子星,您可以享受正弦西门子星的知名优势。除了有限的分辨率(MTF10)和清晰度以外,使用iQ-Analyzer进行分析的结果还提供了完整的MTF。TE276是用于纹理分析的最终解决方案,它包括枯叶结构和对齐和线性化所需的外围标记。Image Engineering在各种出版物中表明,其最新方法目前是解决纹理损失的最佳解决方案。TE42多功能测试图中使用了相同的枯叶结构和低对比度西门子星,以进行图像质量测量。


主要纹理分析图

*单击图卡编号以在Image Engineering网站上显示信息。

*下列图卡可以使用图像分析软件iQ-Analyzer进行分

TE276:枯叶

TE280:纹理损失测试图