AR膜/涂层透反射测量系统

     Gamma Scientific的反射和透射测量系统可在抛光基板上提供逆反射，薄膜涂层的快速光谱测量，用于测量不同样品的镜面和慢反射测量系统。

特点

• 完整的光谱分析

• 测试涂层均匀性和颜色

• 研发或生产的全周期测试

系统类型

• 全自动集成生产线反射测量

• 半自动可编程X-Y平台，用于快速检测，研发，质量保证

• 桌面和手持系统 - 主要用于研发或小规模研究

应用

• 平板显示器玻璃

• 逆反射（AR）涂层检测

• 触摸屏显示屏

• 光学滤光片/镜片涂层

• 物理气相沉积涂层检测（PVD）